La cámara óptica integral-OMCmonitorización de fuentes de altas energías

  1. Risquez Oneca, Daniel
unter der Leitung von:
  1. José Miguel Mas Hesse Doktorvater

Universität der Verteidigung: Universidad Complutense de Madrid

Fecha de defensa: 24 von November von 2008

Gericht:
  1. Manuel de Cornide Castro-Piñeiro Präsident
  2. Jaime Zamorano Calvo Sekretär
  3. Luis Cuesta Crespo Vocal
  4. David Galadí-Enríquez Vocal
  5. Jorge Torra Roca Vocal

Art: Dissertation

Zusammenfassung

Este trabajo de doctorado se ha realizado bajo la supervisión del Dr. José Miguel Mas-Hesse, en las instalaciones del LAEFF-INTA, situadas en Villafranca del Castillo (Madrid). La tesis se centra principalmente en la cámara óptica OMC (Optical Monitoring Camera), que es un instrumento a bordo del observatorio espacial INTEGRAL. La parte fundamental de esta tesis ha consistido en un estudio detallado de OMC. Se presentan los procedimientos que han sido desarrollados para su verificación y calibración fotométrica en el entorno espacial. Se han conseguido de este modo obtener los mejores resultados posibles del instrumento. Asimismo se describen los algoritmos elaborados para la extracción semiautomática de la fotometría óptica de fuentes de altas energías. El software desarrollado en este trabajo ha permitido mejorar el procesado de los datos de OMC, así como extenderlo a más casos y validarlo por métodos independientes. Además se presenta un primer catálogo de las propiedades de contrapartidas ópticas de fuentes de rayos y rayos X observadas con INTEGRAL. Dentro de esta tesis se desarrolla también la contribución del equipo OMC en el grupo de Monitorización del Bulbo Galáctico, que se está llevando a cabo con INTEGRAL. Se está realizando un procesado de los datos y la consiguiente supervisión de las curvas de luz casi en tiempo real, proporcionando resultados públicos para la comunidad científica. Por último, se ha realizado un estudio de diversas fuentes observadas con OMC. Se ha aprovechado la ventaja de la misión INTEGRAL, que permite la obtención de datos simultáneos en rayos , rayos X, y óptico.