Experimental determination of the relative TL response of TLD-100 chips for 60 kVp X- and 60Co γ-rays

  1. Delgado, V.
  2. González, L.
  3. Marco, M.
  4. Morán, P.
  5. Vañó, E.
Revista:
Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A

ISSN: 0168-9002

Año de publicación: 1987

Volumen: 255

Número: 1-2

Páginas: 238-241

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0168-9002(87)91109-0 GOOGLE SCHOLAR
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