SEU Characterization of Three Successive Generations of COTS SRAMs at Ultralow Bias Voltage to 14.2-MeV Neutrons

  1. Clemente, J.A.
  2. Hubert, G.
  3. Fraire, J.
  4. Franco, F.J.
  5. Villa, F.
  6. Rey, S.
  7. Baylac, M.
  8. Puchner, H.
  9. Mecha, H.
  10. Velazco, R.
Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Año de publicación: 2018

Volumen: 65

Número: 8

Páginas: 1858-1865

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TNS.2018.2800905 GOOGLE SCHOLAR

Objetivos de desarrollo sostenible

Fuente de los datos: Scopus