Department: Óptica

Faculty: Óptica y Optometría

Area: Optics

Research group: Grupo Complutense de Óptica Aplicada / Applied Optics Complutense Group

Email: albalvar@ucm.es

Doctor by the Universidad Complutense de Madrid with the thesis Caracterización elipsométrica de materiales dieléctricos de aplicación en el desarrollo de sensores evanescentes de fibra óptica para el sector aeroespacial 2002. Supervised by Dr. Héctor Guerrero Padrón, Dr. David Cohén.