Completed projects

2016

  1. NANOESTRUCTURAS ALARGADAS COMPLEJAS DE ÓXIDOS DE INTERÉS TECNOLÓGICO Y DE SEMICONDUCTORIES COMPUESTOS: PROPIEDADES ÓPTICAS Y ELÉCTRICAS.

    FRANCISCO JAVIER PIQUERAS DE NORIEGA

  2. CIENCIA DE LOS MATERIALES A RESOLUCIÓN SUB-ANGSTROM

    FRANCISCO JAVIER PIQUERAS DE NORIEGA

2012

  1. PROPIEDADES FÍSICAS DE INTERÉS TECNOLÓGICO DE NANOESTRUCTURAS SEMICONDUCTORAS ALARGADAS.

    FRANCISCO JAVIER PIQUERAS DE NORIEGA

2009

  1. SENSORES DE RADIACIÓN BASADOS EN CdZNTe/CdTe

    FRANCISCO JAVIER PIQUERAS DE NORIEGA

  2. FABRICACIÓN DOPADO Y CARACTERIZACIÓN DE NANOESTRUCTURAS SEMICONDUCTORAS ALARGADAS.

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  3. Comparative study of diferent doping processesin semiconductor nanowires

    MARÍA BIANCHI MÉNDEZ MARTÍN

2006

  1. Estudio por técnicas de microscopia de las propiedades de recombinación electrónica en semiconductores nanocristalinos.

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2005

  1. FABRICACIÓN Y CARACTERIZACIÓN DE NANO- Y MICRO-ESTRUCTURAS SEMICONDUCTORAS ALARGADAS.

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  2. Scaning Electron Microscopy And Scaning Tunneling Microscopy Characterization Of Semiconductors

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  3. Thermophoto Voltaic Cell Based On Gasb

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2003

  1. ESTUDIO DE PROPIEDADES ELECTRONICAS LOCALES DE SEMICONDUCTORES DE BANDA ANCHA CON APLICACIONES EN LUMINISCENCIA.

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2000

  1. PROCESOS DE LUMINISCENCIA EN SEMICONDUCTORES CON NUEVAS APLICACIONES OPTOELECTRONICAS.

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1999

  1. REPARACION DE UN MICROSCOPIO ELECTRONICO DE BARRIDO EN UN SISTEMA SEM/STM.

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1997

  1. EXTENSION DE TECNICAS AVANZADAS DE MICROSCOPIA ELECTRONICA DE BARRIDO A LA MICROSCOPIA TUNEL. APLICACION A SEMICONDUCTORES.

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  2. CORRELACION ENTRE ESTRUCTURA DE DEFECTOS CRISTALINOS Y PROPIEDADES DE RECOMBINACION DE PORTADORES DE CAARGA EN GASB: INFLUENCIA...

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  3. CORRELACION ENTRE ESTRUCTURA DE DEFECTOS CRISTALINOS Y PROPIEDADES DE RECOMBINACION DE PORTADORES DE CARGA EN GaSb: INFLUENCIA DE LAS IMP

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1996

  1. CATODOLUMINISCENCIA Y EMISION DE ELECTRONES SECUNDARIOS DE SUPERCONDUCTORES DE ALTA TEMPERATURA CRITICA EN EL MICROSCOPIO ELECTRONICO. RELACION CON PROPIEDADES FISICAS LOCALES.

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1995

  1. SIMPOSIO INTERNATIONAL BIADS-96.

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1994

  1. CARACTERIZACION DE DEFECTOS EN SEMICONDUCTORES Y SUPERCONDUCTORESDE ALTA TEMPERATURA CRITICA POR TECNICAS DE INYECCION DE HACES.

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  2. ESPECTROSCOPIA Y MICROSCOPIA DE NIVELES ELECTRONICOS EN LOS SEMICON- DUCTORES CdTe y GaSb.

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1993

  1. ESTADOS ELECTRONICOS DE DEFECTOS EN COMPUESTOS III-V

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  2. ESTUDIO DE NIVELES ELECTRONICOS PROFUNDOS EN LAMINAS DE DIAMANTE

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1991

  1. CARATERIZACION DE DEFECTOS EN SEMICONDUCTORES Y HETEROESTRUCTURAS DE SEMICONDUCTORES POR TECNICAS DE INYECCION DE HACES

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  2. ESTUDIO DE NIVELES ELECTRONICOS PROFUNDOS EN GAP.

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1990

  1. APLICACIONES DE LA MICROSCOPIA ELECTROACUSTICA DE BARRIDO(SEAM) EN LA CARACTERIZACION DE SEMICONDUCTORES Y MATERIALES CERAMICOS.

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1989

  1. CARACTERIZACION DE DEFECTOS EN SEMICONDUCTORES III-V

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1988

  1. CARACTERIZACION DE DEFECTOS SEMICONDUCTORES III-V.

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