Láminas delgadas de SiNxH y SiOx depositadas mediante la técnica ECR-CVD para su aplicación en estructura MIS
- García Sánchez, Silvia
- Ignacio Mártil de la Plaza Director
- Germán González Díaz Director
Universitat de defensa: Universidad Complutense de Madrid
Any de defensa: 1996
- Juan Manuel Rojo Alaminos President
- Jacobo Santamaría Sánchez-Barrriga Secretari
- Joan Ramon Morante Lleonart Vocal
- José María Albella Martín Vocal
- Enrique Iborra Grau Vocal
Tipus: Tesi
Resum
La memoria presentada constituye un estudio en profundidad de la técnica electron-cyclotron resonance de deposito de laminas delgadas de los aislantes sinx: h y siox. Se han analizado los principales parámetros de producción que afectan a las propiedades de las laminas, como son la potencia de microondas, la temperatura del portasustratos, la relación de flujos de los gases (n2/sihy para el sinx:h; 02/sihy para el siox) y la presión total en la cámara. Se han estudiado las principales caracteristicas físicas de las laminas en función de tales parámetros, encontrándose las condiciones para obtener caracteristicas optimas. Se han aplicado estas laminas a la realización y caracterización de estructuras mis sobre sí y sobre inp. Se han obtenido caracteristicas c-v sobre ambos tipos de estructuras de las mejores encontradas en la literatura, siendo factible la utilización de tales estructuras en dispositivos de efecto campo.