Modelo teórico cuantitativo para el estudio del microscopio de fuerzasanálisis de los procesos de disipación de energía y recuperación de la interacción punta-muestra

Zusammenfassung

El trabajo de investigación que ha dado lugar a la elaboración de esta tesis se enmarca dentro de la microscopía de fuerza atómica (AFM) y más concretamente en su modalidad de modulación en amplitud (AM-AFM). El microscopio de fuerza atómica es, como todos los microscopios, un instrumento que permite obtener imágenes de una superficie. En este caso, la resolución que permite percibir el instrumento es, de forma genérica, de unos pocos nanómetros. En vez de utilizar la luz como se hace en los microscopios ópticos o un haz de electrones como en los electrónicos, el AFM utiliza las fuerzas de interacción entre la superficie y el microscopio para mostrar imágenes de esta, de la misma forma que al pasar la mano sobre una superficie de metal, se obtiene información sobre su rugosidad. Este trabajo pretende responder a alguna de las cuestiones abiertas sobre los mecanismos de disipación de energía existentes durante un experimento de AFM, permitiendo aumentar el conocimiento sobre las fuerzas de interacción entre la punta del microscopio y los distintos materiales y su efecto en el comportamiento del microscopio. De esta forma pueden identificarse los diferentes procesos de disipación y extraerse información cuantitativa sobre las propiedades de los materiales además de posibilitar una mayor comprensión sobre la dinámica del sistema punta-muestra que permita incrementar la resolución del microscopio.