Efectos de polarización sobre los modos de vibración de óxidos binarios microcristalinos

Abstract

El objetivo fundamental de este trabajo es analizar las posibilidades de la espectroscopia infrarroja como técnica de caracterización de materiales microcristalinos, mediante la utilización de la teoría de la constante dieléctrica promedio (tcdp) y la teoría de absorción y scattering de luz por pequeñas partículas (tas). Con este objetivo, en primer lugar se lleva a cabo un estudio teórico comparativo de la tcdp y la tas y posteriormente se analiza la aplicabilidad experimental de la tcdp para lo cual han sido elegidos diversos óxidos que cubren un amplio rango de constantes dieléctricas (hematites, rutilo, x-cuarzo y sílice amorfa). Se muestra que el espectro infrarrojo de un solido microcristalino esta afectado no solo por su naturaleza química y estructural, sino también por la forma y estado de agregación de las partículas que lo constituyen, mientras que factores tales como el tamaño de partícula, diferencias de cristalinidad y no-estequiometria no tienen una influencia significativa. Finalmente, se presentan algunos ejemplos que ilustran la utilidad del análisis de espectros mediante la tcdp, para obtener información sobre diversos aspectos relacionados con la química del estado solido.