Anisotropía y dimensionalidad en distintos sistemas superconductores

Resumen

El principal objeto de esta tesis consiste en estudiar experimentalmente las relaciones entre la anisotropía y dimensionalidad en un caso muy especial y no analizado hasta ahora, como es el de las películas y superredes de la familia 1:2:3 con textura (100) (es decir, con los planos superconductores de Cu-O perpendiculares a la superficie del sustrato, lo que habitualmente se denomina orientación eje-a). Las condiciones de medida se reducen a temperaturas elevadas, campos magnéticos altos y zona lineal de características I-V. En los análisis, se tendrá en cuenta el papel jugado por la microestructura de las muestras, su posible influencia en los resultados obtenidos, para lo cual se comparan con medidas efectuadas en muestras texturadas eje-c de YBa2Cu3O7. Las distintas muestras, películas simples de EuBa2Cu3O7 y superredes (EuBa2Cu3O7/PrBa2Cu3O7 y EuBa2Cu3O7/SrTiO3) orientadas eje-a, han sido crecidas en nuestro laboratorio por los procedimientos que se describen en este trabajo. También se hace un estudio, mediante un método de refinamiento de rayos-X, de la estructura de las superredes. Por otra parte, el método de análisis de la dimensionalidad, basado en la anisotropía del campo crítico superior Hc2, nos obliga al empleo de leyes de escala que eviten el problema experimental de la medición del campo crítico Hc2. La ilustración y comprobación de la bondad del método se ha realizado en el sistema Bi2Sr2CaCuO8.