Construcción de un analizador esférico electrostático para la espectroscopia M Össbauer de electrones de conversión (DCEMS):aplicación de la DCEMS al estudio de películas delgadas de Fe

Abstract

SE HA DISEÑADO Y CONSTRUIDO UN ANALIZADOR ESFERICO ELECTROSTATICO DE ELECTRONES PARA EL INTERVALO ENERGETICO 0-8 KEV, CONFIGURADO PARA SU USO EN ESPECTROSCOPIA MOSSBAUER. LA RESOLUCION DEL ANALIZADOR FUE 2.5% (EK=7.3 KEV), SIENDO ESTE VALOR EXPERIMENTAL MUY CERCANO A LOS CALCULADOS AL DISEÑAR EL ANALIZADOR. SE HA LLEVADO A CABO EL MONTAJE DE UN ESPECTROMETRO DCEMS ("DEPTH-SELECTIVE CONVERSION ELECTRON MOSSBAUER SPECTROSCOPY") Y SE HA EFECTUADO LA PUESTA EN FUNCIONAMIENTO DEL ESPECTROMETRO OPTIMIZANDO LAS CONDICIONES DE SELECCION DE ENERGIA Y LAS DE DETECCION DE ELECTRONES HASTA CONSEGUIR UNA RELACION SEÑAL/RUIDO CONDUCENTE A LA OBTENCION DE ESPECTROS DCEM. SE HA COMPROBADO LA OPERATIVIDAD DEL ESPECTROMETRO Y LA UTILIDAD DEL METODO EN EL ESTUDIO DE PROBLEMAS RELACIONADOS CON LA CARACTERIZACION DE FASES DE FE EN SUPERFICIES, MEDIANTE LA APLICACION DE LA TECNICA DCEMS A LA CARACTERIZACION DE LOS PRODUCTOS POR OXIDACION AL AIRE Y POR EXPOSICION A UNA ATMOSFERA DE SO2, EN PELICULAS DELGADAS DE FE, PRODUCIDAS POR EVAPORACION DE ESTE METAL EN ALTO VACIO SOBRE DIFERENTES SUSTRATOS, Y AL ESTUDIO DE LA REDUCCION DE FE3+ A ALFA-FE EN UNA PELICULA PREPARADA POR EL METODO DE LANGMUIR-BLODGETT. EN TODAS ESTAS APLICACIONES LAS MUESTRAS FUERON TAMBIEN ESTUDIADAS POR ICEMS ("INTEGRAL CEMS"), Y, EN ALGUNOS CASOS, POR ESPECTROSCOPIA DE FOTOELECTRONES GENERADOS POR RAYOS X (XPS) Y MICROSCOPIA ELECTRONICA DE BARRIDO (SEM), OBTENIENDOSE RESULTADOS COMPLEMENTARIOS QUE SIRVIERON DE APOYO A LAS CONCLUSIONES DEL TRABAJO.