Tomografía del módulo y la fase de un haz focalizado de infra-rojo para medidas de caracterización nanofotónica

  1. Silva López, Manuel
  2. Rico García, José María
  3. Alda, Javier
Zeitschrift:
Óptica pura y aplicada

ISSN: 2171-8814

Datum der Publikation: 2012

Titel der Ausgabe: ESPECIAL OPTOEL´11

Ausgabe: 45

Nummer: 2

Seiten: 233-237

Art: Artikel

DOI: 10.7149/OPA.45.2.233 DIALNET GOOGLE SCHOLAR

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Zusammenfassung

En esta contribucion se presentan los mapas de intensidad y fase de un haz laser en las cercanias del plano focal de una lente. Los mapas de irradiancia se obtienen a traves de un metodo tomografico basado en la tecnica knife-edge, y los mapas de fase se extraen usando un algoritmo basado en la ecuacion de transporte de irradiancia. Conocer la distribucion de la amplitud y la fase del haz incidente es importante para la caracterizacion de dispositivos nanofotonicos (como detectores basados en antenas), sensibles a estos parametros. Este metodo evita el uso de camaras en condiciones de baja resolucion.