3D Raman mapping of uniaxially loaded 6H-SiC crystals

  1. Del Corro, E.
  2. Izquierdo, J.G.
  3. González, J.
  4. Taravillo, M.
  5. Baonza, V.G.
Revista:
Journal of Raman Spectroscopy

ISSN: 0377-0486 1097-4555

Ano de publicación: 2013

Volume: 44

Número: 5

Páxinas: 758-762

Tipo: Artigo

DOI: 10.1002/JRS.4252 GOOGLE SCHOLAR