Oxide wizard: An EELS application to characterize the white lines of transition metal edges

  1. Yedra, L.
  2. Xuriguera, E.
  3. Estrader, M.
  4. López-Ortega, A.
  5. Baró, M.D.
  6. Nogués, J.
  7. Roldan, M.
  8. Varela, M.
  9. Estradé, S.
  10. Peiró, F.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1435-8115,  1431-9276

Any de publicació: 2014

Volum: 20

Número: 3

Pàgines: 698-705

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1017/S1431927614000440 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus