A TEM and XRD study of the SbNbSe3 misfit layer structures

  1. Salamanca Oviedo, L.N.
  2. Gómez-Herrero, A.
  3. Landa Cánovas, A.R.
  4. Otero-Díaz, L.C.
Revista:
Micron

ISSN: 0968-4328

Año de publicación: 2000

Volumen: 31

Número: 5

Páginas: 597-603

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1016/S0968-4328(99)00142-0 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus