A TEM and XRD study of (BiS)1+δ(Nb1+εS2)n misfit layer structures
- Otero-Diaz, L.C.
- Withers, R.L.
- Gomez-Herrero, A.
- Welberry, T.R.
- Schmid, S.
ISSN: 1095-726X, 0022-4596
Any de publicació: 1995
Volum: 115
Número: 1
Pàgines: 274-282
Tipus: Article