Magnetic and X-ray diffraction characterization of stoichiometric Pr2NiO4 and Nd2NiO4 oxides

  1. Saez Puche, R.
  2. Fernández, F.
  3. Rodríguez Carvajal, J.
  4. Martínez, J.L.
Revista:
Solid State Communications

ISSN: 0038-1098

Año de publicación: 1989

Volumen: 72

Número: 3

Páginas: 273-277

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0038-1098(89)90809-0 GOOGLE SCHOLAR
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