Enhanced critical temperature in epitaxial ferroelectric Pb (Zr 0.2 Ti0.8) O3 thin films on silicon

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Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Año de publicación: 2011

Volumen: 98

Número: 1

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.3532110 GOOGLE SCHOLAR
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