Cathodoluminescence and REBIC study of defects in tin oxide

  1. Maestre, D.
  2. Cremades, A.
  3. Piqueras, J.
Actas:
Proceedings of the International Conference on Microelectronics

Año de publicación: 2004

Volumen: 24 II

Páginas: 433-436

Tipo: Aportación congreso