Behaviour of metallic impurities at grain boundaries and dislocation clusters in multicrystalline silicon wafers deduced from contactless lifetime scan maps
- Hidalgo, P.
- Palais, O.
- Martinuzzi, S.
ISSN: 0953-8984
Año de publicación: 2004
Volumen: 16
Número: 2
Tipo: Aportación congreso