Scanning tunnelling microscopy and spectroscopy of nanocrystalline silicon films
- Nogales, E.
- Méndez, B.
- Piqueras, J.
- Plugaru, R.
ISSN: 0268-1242
Any de publicació: 2001
Volum: 16
Número: 9
Pàgines: 789-792
Tipus: Article
ISSN: 0268-1242
Any de publicació: 2001
Volum: 16
Número: 9
Pàgines: 789-792
Tipus: Article