Modeling the bias and temperature dependence of a C-Class MESFET amplifier

  1. Munoz, S.
  2. Sebastian, J.L.
  3. Gallego, J.D.
Revista:
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques

ISSN: 0018-9480

Año de publicación: 1997

Volumen: 45

Número: 4

Páginas: 527-533

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/22.566633 GOOGLE SCHOLAR
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