Experimental determination of the relative TL response of TLD-100 chips for 60 kVp X- and 60Co γ-rays

  1. Delgado, V.
  2. González, L.
  3. Marco, M.
  4. Morán, P.
  5. Vañó, E.
Zeitschrift:
Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A

ISSN: 0168-9002

Datum der Publikation: 1987

Ausgabe: 255

Nummer: 1-2

Seiten: 238-241

Art: Artikel

DOI: 10.1016/0168-9002(87)91109-0 GOOGLE SCHOLAR