SEU Characterization of Three Successive Generations of COTS SRAMs at Ultralow Bias Voltage to 14.2-MeV Neutrons

  1. Clemente, J.A.
  2. Hubert, G.
  3. Fraire, J.
  4. Franco, F.J.
  5. Villa, F.
  6. Rey, S.
  7. Baylac, M.
  8. Puchner, H.
  9. Mecha, H.
  10. Velazco, R.
Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Ano de publicación: 2018

Volume: 65

Número: 8

Páxinas: 1858-1865

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TNS.2018.2800905 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable

Fonte de datos: Scopus