Statistical approach in a system level methodology to deal with process variation

  1. Pineda, C.S.
  2. Prieto, M.
  3. Gómez, J.I.
  4. Tenllado, C.
  5. Catthoor, F.
Actas:
Embedded Systems Week 2010 - Proceedings of the 8th IEEE/ACM/IFIP International Conference on Compilers, Architecture and Synthesis for Embedded Systems, CODES+ISSS'2010

ISBN: 9781605589053

Año de publicación: 2010

Páginas: 115-124

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1145/1878961.1878983 GOOGLE SCHOLAR

Objetivos de desarrollo sostenible

Fuente de los datos: Scopus