Scandium oxide deposited by high-pressure sputtering for memory devices: Physical and interfacial properties
- Feijoo, P.C.
- Del Prado, A.
- Toledano-Luque, M.
- San Andŕs, E.
- Lucía, M.L.
Revista:
Journal of Applied Physics
ISSN: 0021-8979
Año de publicación: 2010
Volumen: 107
Número: 8
Tipo: Artículo