Complete characterization of arbitrary quantum measurement processes

  1. Luis, A.
  2. Sánchez-Soto, L.L.
Revista:
Physical Review Letters

ISSN: 1079-7114,  0031-9007

Año de publicación: 1999

Volumen: 83

Número: 18

Páginas: 3573-3576

Tipo: Artículo

DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.83.3573 GOOGLE SCHOLAR
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