Micro-Raman study of surface alterations in InGaAs after thermal annealing treatments

  1. Hernández, S.
  2. Cuscó, R.
  3. Artús, L.
  4. Blanco, N.
  5. Mártil, I.
  6. González-Díaz, G.
Zeitschrift:
International Journal of Modern Physics B

ISSN: 0217-9792

Datum der Publikation: 2002

Ausgabe: 16

Nummer: 28-29

Seiten: 4401-4404

Art: Konferenz-Beitrag

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