Conductance-transient three-dimensional profiling of disordered induced gap states on metal-insulator-semiconductor structures

  1. Castan, H.
  2. Duenas, S.
  3. Barbolla, J.
  4. Martil, I.
  5. González-Díaz, G.
Actas:
Materials Research Society Symposium - Proceedings

ISSN: 0272-9172

Año de publicación: 2002

Volumen: 699

Páginas: 231-236

Tipo: Aportación congreso

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