Lattice damage study of implanted InGaAs by means of Raman spectroscopy

  1. Hernández, S.
  2. Marcos, B.
  3. Cuscó, R.
  4. Blanco, N.
  5. González-Díaz, G.
  6. Artús, L.
Revista:
Journal of Luminescence

ISSN: 0022-2313

Año de publicación: 2000

Volumen: 87

Páginas: 721-723

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/S0022-2313(99)00374-9 GOOGLE SCHOLAR