High- k gate stacks on low bandgap tensile strained ge and gesn alloys for field-effect transistors

  1. Wirths, S.
  2. Stange, D.
  3. Pampillón, M.-A.
  4. Tiedemann, A.T.
  5. Mussler, G.
  6. Fox, A.
  7. Breuer, U.
  8. Baert, B.
  9. San Andrés, E.
  10. Nguyen, N.D.
  11. Hartmann, J.-M.
  12. Ikonic, Z.
  13. Mantl, S.
  14. Buca, D.
Revista:
ACS Applied Materials and Interfaces

ISSN: 1944-8252 1944-8244

Año de publicación: 2015

Volumen: 7

Número: 1

Páginas: 62-67

Tipo: Artículo

DOI: 10.1021/AM5075248 GOOGLE SCHOLAR