Positive bias temperature instabilities on sub-nanometer EOT FinFETs

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Revue:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Année de publication: 2011

Volumen: 51

Número: 9-11

Pages: 1521-1524

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2011.06.014 GOOGLE SCHOLAR
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