Aberration-corrected scanning transmission electron microscopy: From atomic imaging and analysis to solving energy problems
- Pennycook, S.J.
- Chisholm, M.F.
- Lupini, A.R.
- Varela, M.
- Borisevich, A.Y.
- Oxley, M.P.
- Luo, W.D.
- Benthem, K.V.
- Oh, S.-H.
- Sales, D.L.
- Molina, S.I.
- GarcíA-Barriocanal, J.
- Leon, C.
- SantamaríA, J.
- Rashkeev, S.N.
- Pantelides, S.T.
ISSN: 1364-503X
Ano de publicación: 2009
Volume: 367
Número: 1903
Páxinas: 3709-3733
Tipo: Artigo