Simulation of probe position-dependent electron energy-loss fine structure

  1. Oxley, M.P.
  2. Kapetanakis, M.D.
  3. Prange, M.P.
  4. Varela, M.
  5. Pennycook, S.J.
  6. Pantelides, S.T.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1435-8115,  1431-9276

Año de publicación: 2014

Volumen: 20

Número: 3

Páginas: 784-797

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1017/S1431927614000610 GOOGLE SCHOLAR
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