Atomic resolution mapping of inequivalent O sites in complex oxides

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Zeitschrift:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276 1435-8115

Datum der Publikation: 2009

Ausgabe: 15

Nummer: SUPPL. 2

Seiten: 434-435

Art: Artikel

DOI: 10.1017/S1431927609092629 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor