Chapter 9 Materials Applications of Aberration-Corrected Scanning Transmission Electron Microscopy

  1. Pennycook, S.J.
  2. Chisholm, M.F.
  3. Lupini, A.R.
  4. Varela, M.
  5. van Benthem, K.
  6. Borisevich, A.Y.
  7. Oxley, M.P.
  8. Luo, W.
  9. Pantelides, S.T.
Colección de libros:
Advances in Imaging and Electron Physics

ISSN: 1076-5670

ISBN: 9780123742209

Año de publicación: 2008

Volumen: 153

Páginas: 327-384

Tipo: Capítulo de Libro

DOI: 10.1016/S1076-5670(08)01009-4 GOOGLE SCHOLAR