Image formation based on atomic resolution core-loss electron energy loss spectroscopy

  1. Oxley, M.P.
  2. Van Benthem, K.
  3. Varela, M.
  4. Findlay, S.D.
  5. Allen, L.J.
  6. Pennycook, S.J.
Revue:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276 1435-8115

Année de publication: 2006

Volumen: 12

Número: SUPPL. 2

Pages: 1138-1139

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1017/S1431927606062416 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccès ouvert editor

Objectifs de Développement Durable