A comparative study of Ge nanocrystals in SixGeyOz alloys and SiOx/GeOy multilayers

  1. Zacharias, M.
  2. Weigand, R.
  3. Dietrich, B.
  4. Stolze, F.
  5. Bläsing, J.
  6. Veit, P.
  7. Drüsedau, T.
  8. Christen, J.
Revue:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Année de publication: 1997

Volumen: 81

Número: 5

Pages: 2384-2390

Type: Révision

DOI: 10.1063/1.364242 GOOGLE SCHOLAR
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