Transmission electron microscopy applied to the study of works of art: Sample preparation methodology and possible techniques

  1. San Andres, M.
  2. Baez, M.I.
  3. Baldonedo, J.L.
  4. Barba, C.
Revista:
Journal of Microscopy

ISSN: 0022-2720

Ano de publicación: 1997

Volume: 188

Número: 1

Páxinas: 42-50

Tipo: Artigo

DOI: 10.1046/J.1365-2818.1997.2460804.X GOOGLE SCHOLAR
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