Goodness-of-fit tests based on Kφ-divergence

  1. Pérez, T.
  2. Pardo, J.A.
Aldizkaria:
Kybernetika

ISSN: 0023-5954

Argitalpen urtea: 2003

Alea: 39

Zenbakia: 6

Orrialdeak: 739-752

Mota: Artikulua

GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus