In situ roughness measurements for the solar cell industry using an atomic force microscope

  1. González-Jorge, H.
  2. Alvarez-Valado, V.
  3. Valencia, J.L.
  4. Torres, S.
Revista:
Sensors

ISSN: 1424-8220

Any de publicació: 2010

Volum: 10

Número: 4

Pàgines: 4002-4009

Tipus: Article

DOI: 10.3390/S100404002 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor
Font de les dades: Scopus