The Throughput vs. the M2 quality factor
- Alda, J.
- Alonso, J.
- Bernabeu, E.
Actes:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
ISSN: 0277-786X
Any de publicació: 1998
Volum: 3418
Pàgines: 44-55
Tipus: Aportació congrés