Experimental study of the hot-carrier impact ionization photovoltaic effect in pulsed-CO2-laser-excited silicon junctions

  1. Encinas-Sanz, F.
  2. Marín, M.
  3. Guerra, J.M.
Zeitschrift:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Datum der Publikation: 2001

Ausgabe: 16

Nummer: 6

Seiten: 463-466

Art: Artikel

DOI: 10.1088/0268-1242/16/6/307 GOOGLE SCHOLAR
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