Automatic interference method for measuring transparent film thickness

  1. Gonzalez-Cano, A.
  2. Bernabeu, E.
Aldizkaria:
Applied Optics

ISSN: 2155-3165,  1559-128X

Argitalpen urtea: 1993

Alea: 32

Zenbakia: 13

Orrialdeak: 2292-2294

Mota: Artikulua

DOI: 10.1364/AO.32.002292 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus