Spectrogoniometry and the WANTED method for thickness and refractive index determination

  1. Martínez-Antón, J.C.
  2. Bernabeu, E.
Revista:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Año de publicación: 1998

Volumen: 313-314

Páginas: 85-89

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/S0040-6090(97)00775-X GOOGLE SCHOLAR
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