Ellipsometric characterization and influence of relative humidity on TiO2 layers optical properties

  1. Alvarez-Herrero, A.
  2. Fort, A.J.
  3. Guerrero, H.
  4. Bernabeu, E.
Revista:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Año de publicación: 1999

Volumen: 349

Número: 1

Páginas: 212-219

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/S0040-6090(99)00145-5 GOOGLE SCHOLAR
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