Evaluacion del daño por irradiacion en dispositivos optoelectronicos y fotovoltaicos

Zusammenfassung

En la memoria de Tesis Doctoral se pretende explorar y aplicar una metodología de análisis de la degradaciónpor irradiación a dispositigvos optoelectrónicos y fotovoltaicos, por aplicación de las técnicas de corriente inducida por haces de electrones (EBIC) y cátodoluminiscencia (CL). Las dificultades de interpretación y análisis cuantitativo de la respuesta electroóptica producida por la excitación con haces de electrones, han supuesto un handicap para la implantación de estas técnicas a un nivel que implique mayor compenetración con los centros de investigación y desarrollo y con la fiabilidad de los dispositivos en la línea de producción. Exploramos el potencial de las técnicas EBIC y CL en el análisis de la degradación de dispositivos optoelectrónicos y fotovoltaicos sometidos en operación a ambientes de irradiación extrema, lo que introduce especificaciones de tolerancia a la radiación. El primer análisis se refiere a la degradación inducida por neutrones en láseres de múltiples pozos cuánticos de InGaAsP/Inp (1310 nm) suministrados por GEC Marconi Defence Systems. Éstos han sido propuestos como láseres para un sistema de transferencia óptica de la señal analógica ubicado en el colisonador LHC, proyectado en el Laboratorio Europeo de Investigación Nuclear. A partir de la discusión de los resultados, se rpedice el desplazamiento de la corriente umbral durante los diez años de operación del LHC. En siguientes apartados, se establece la tolerancia a la radiación de diferentes prototipos de células solares para examinar su fiabilidad en aplicaciones espaciales. En la Memoria de Tesis Doctoral se han ensayado dos tecnologías emergentes, a saber, las células solares de base InPsobre substratos de Silicio, de polaridad n+-p, producidas por RTI. A partir del análisis cuantitativo de los datos suministrados por las técnicas EBIC y CL, entre otras, se propone un mecanismo de degradación de estas