Deadlock-guided testing

  1. Gomez-Zamalloa, M.
  2. Isabel, M.
Revista:
IEEE Access

ISSN: 2169-3536

Año de publicación: 2021

Volumen: 9

Páginas: 46033-46048

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/ACCESS.2021.3065421 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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