Hg1-xCdxTe electrical properties changes induced by Rapid Thermal Annealing

  1. Rodríguez, T.
  2. Del Rio, J.
  3. Rubio, J.A.L.
  4. Sangrador, J.
  5. Van Praet, D.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X,  0277-786X

Año de publicación: 1993

Volumen: 2021

Páginas: 202-207

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.164944 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus