Structural characterization of Ce1-xZrxO2 (0 ≤ x ≤ 1) samples prepared at 1650 °C by solid state reaction. A combined TEM and XRD study
- Varez, A.
- Garcia-Gonzalez, E.
- Jolly, J.
- Sanz, J.
ISSN: 0955-2219
Año de publicación: 2007
Volumen: 27
Número: 13-15
Páginas: 3677-3682
Tipo: Artículo