Foil-hole and data image quality assessment in 3DEM: Towards high-throughput image acquisition in the electron microscope
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- Sorzano, C.O.S.
- Gomez-Blanco, J.
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- Koster, A.J.
- Carazo, J.M.
ISSN: 1095-8657, 1047-8477
Año de publicación: 2016
Volumen: 196
Número: 3
Páginas: 515-524
Tipo: Artículo